Новая технология поверхностной рентгеновской спектроскопии субнанометрового разрешения

Артём Коржиманов

Сотрудники Берклиевской лаборатории разработали новую технологию рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, позволяющей определять химический состав неоднородной поверхности даже в сложных случаях с разрешением меньше одного нанометра.

© 
Схема, иллюстрирующая принцип работы новой технологии. На поверхность находящегося под давлением материала падает рентгеновское излучение. Образующаяся в приповерхностном слое стоячая волна рождает фотоэлектроны, которые несут информацию о химическом составе поверхности.
Схема, иллюстрирующая принцип работы новой технологии. На поверхность находящегося под давлением материала падает рентгеновское излучение. Образующаяся в приповерхностном слое стоячая волна рождает фотоэлектроны, которые несут информацию о химическом составе поверхности.

Технология, названная SWAPPS (Standing Wave Ambient Pressure Photoelectron Spectroscopy), объединяет две уже известные технологии — SWPS (Standing-wave photoelectron spectroscopy) и APPS (Ambient pressure photoelectron spectroscopy).

О своём достижении учёные сообщили в статье, опубликованной в журнале Nature Communications.

Источник: New X-ray spectroscopy gives better look at the chemistry of interfaces // Phys.org

Читайте также